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離線自動光學檢測設(shè)備
中導光電離線自動光學檢測設(shè)備
,
其
主要應用于陣列面板、彩膜面板、觸摸屏面板和有機發(fā)光二極管面板的缺陷檢測,最高測量精度為1.0微米級,
處于國內(nèi)先進水平
。
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